iPon Hírek

Hatékony memória tesztelés a GEIL-nél

Dátum | 2008. 09. 02.
Szerző | J.o.k.e.r
Csoport | FŐ EGYSÉG

Az Amerikai Egyesült Államokban található neves memóriagyártó, a GEIL bejelentette, hogy a DDR2 SO-DIMM modulok mellett új módszerekkel teszteli a játékosok számára készített Black Dragon és BD Evo ONE sorozatú DDR2-es memória moduljait is. Az új, első hallásra rendkívül hatékony eljárás DBT (Die-hard Burn-in Technology) néven fut, segítségével a vállalat mérnökei szerint kiszűrhetőek a hibára hajlamos memória modulok, így a teszten átment, tökéletesen működő egységekkel egészen biztosan elégedettek lesznek a felhasználók.

A DBT keretein belül minden egyes memória modult egyenként, speciális módszerekkel tesztelnek, így hatékonyan ki lehet szűrni a gyenge minőségű példányokat. Az új eljárás tovább növeli a GEIL moduljainak megbízhatóságát és segít minimálisra csökkenteni annak az esélyét, hogy hibás GEIL terméket vásároljunk - állítja a gyártó.

A DBT-1-es "kínzókamrában" éppen 1000 darab Black Dragon modul szenved.
A DBT tesztet egyébként a GEIL saját DBT-1-es névre keresztelt tesztkamrájában végzik, a kamrán belül összesen 1000 darab memória modul egyidejű tesztelésére van lehetőség a speciális alaplapok segítségével. A kamrában helyet foglaló modulok a gyártó saját fejlesztésű szoftverének segítségével különböző, dinamikus teszteken esnek át. A DBT-1-es kamrában a hőmérsékletet akár 100 Celsius fokig is lehet emelni, a teszt egyébként egy teljes napon át zajlik (24 óra).

A gyártó új memória termékcsaládjai, amelyek már mind át fognak esni a DBT teszten, a közeljövőben kerülnek bejelentésre.

Új hozzászólás írásához előbb jelentkezz be!

Eddigi hozzászólások