iPon Hírek

Új nagyságrendek az eletronmikroszkópiában

Dátum | 2012. 03. 08.
Szerző | Jools
Csoport | EGYÉB

A Sheffieldi Egyetem kutatói új módszert fejlesztettek ki az eletronmikroszkópiában, amely minden eddiginél jobb felbontású képalkotást tesz lehetővé. Az eljárásról részletesen a Nature Communications oldalain számolnak be.

Az elmúlt hetven évben a transzmissziós elektronmikroszkópok (TEM) a technológia egyéb részeihez képest viszonylag gyenge lencsék segítségével hozták létre a vizsgált anyag képét. Az elektronptichográfiának nevezett metódus megszabadul a lencséktől, és egyenesen a tárgyon áthaladt, szóródott elektron-hullámokból állítja össze a képet számítógép segítségével, vagyis a diffrakciós kép alapján készíti el a tárgy képét.

John Rodenburg, a projekt vezetője elmondta: „Ahhoz, hogy megértsük egy anyag viselkedését, pontosan tudnunk kell, hogy hol helyezkednek el az atomjai. Ez a módszer lehetővé teszi, hogy úgy jelenítsük meg egy szilárd anyag egymás mellett elhelyezkedő atomjait, mintha a kezünkben tarthatnánk ezeket.”


A technika bármilyen sugárforrást használó mikroszkóp esetében alkalmazható, és számos előnnyel jár a hagyományos módszerekhez képest. Látható fényt használva például a jobb felbontás következtében nincs szükség a minta megfestésére, így akár élő sejtek is megfigyelhetők a módszerrel, azok elpusztítása nélkül, ami általában a festés egyenes következménye. Mivel a továbbiakban nem szükséges egy lencsét a mintához közel elhelyezni, a sejtek akár a Petri-csészében is megfigyelhetők, így nem kell minden vizsgálathoz áthelyezni őket és megbontani az élő kultúrák rendjét.


„A diffrakciós mintát rögzítjük a képek helyett. Amit érzékelünk az egyenértékű a szóródó elektronok, röntgensugarak vagy fényhullámok erejével, vagyis az intenzitással. A kép elkészítéséhez azonban ismernünk kell az aktuális beérkező hullám fázisát is” ‒ mondja Rodenburg. „Az igaz áttörést az jelenti, hogy kitaláltunk egy módszert, amelynek segítségével pusztán az intenzitás alapján meg tudjuk határozni a hullámfázist.” Innentől mintegy „visszakövetik” az egyes hullámokat a szóródás helyéig, és eredményül sokkal jobb képet kapnak a lencsével elérhetőnél. Ahol a hagyományos TEM a lehető legideálisabb lencsét és egyéb trükköket bevetve 1,2 nanométeres felbontást produkál, ott az új módszerrel 0,24 nm-es felbonást sikerült elérni a látótér teljes területén.

„Egy tipikus elektronmikroszkóppal vagy röntgennel készült felvétel százszor olyan elmosódott, mint ami a fényforrás hullámhosszának elméleti határaiból következne” ‒ folytatja Rodenburg. Ezzel a módszerrel végre kihozhatók a sugárforrás által biztosítható maximumok a kép megjelenítésében is.

Élő növényi sejtek festés nélküli képe
 

Új hozzászólás írásához előbb jelentkezz be!

Eddigi hozzászólások

3. lorddiablo
2012.03.08. 21:22
Na, ez végre egy olyan eredmény, amire kérdés nélkül azt lehet mondani, hogy rengeteg hivatkozást fog kapni, holnaptól már csak ilyet használ majd mindenki.
 
Válasz írásához előbb jelentkezz be!
2. Vendég-Ven...
2012.03.08. 22:09
Egyetértek, lorddiablo. És ez még csak a kezdet, mert a cikk szerint a hagyományos elektronmikroszkópok képe 100-szor elmosódottabb a lehetségesnél. Ebből most hoztak 5-szörös javulást, és biztos fogják még tovább fejleszteni.
 
Válasz írásához előbb jelentkezz be!
1. Zoe
2012.03.13. 23:15
Ráadásul "festés" alatt azt kell érteni, hogy színarannyal vonják be a vizsgálandó tárgyat. Ez nem vicc, elektronmikroszkópos képalkotás ezért is ilyen drága.
 
Válasz írásához előbb jelentkezz be!